Manuel du propriétaire | Leica STEREO EXPLORER Manuel utilisateur

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Manuel du propriétaire | Leica STEREO EXPLORER Manuel utilisateur | Fixfr
Leica
Stereo Explorer
Module Surfaces
Description :
Le module Surface de Stereo Explorer permet d’évaluer la surface selon des paramètres tels que la rugosité et l’ondulation. La dimension fractale est une valeur issue de l’analyse de rupture. Elle permet de décrire la surface et se calcule avec le module Surface de Stereo Explorer. Un autre paramètre de caractérisation de la surface est le rapport
existant entre surface réelle et surface projetée. Pour définir une région d’intérêt (ROI), l’utilisateur peut choisir le
mode Rectangle ou Polygone.
La région d’intérêt est la sélection de la partie de l’image dont l’on veut calculer les paramètres de surface. La représentation de la surface s’effectue avec l’image microscopique stéréo d’origine ou bien une image couleur ou en valeur de gris avec codage des hauteurs. Tout comme sur une carte géographique, il est également possible d’afficher
les courbes de niveau. La représentation actuelle peut être enregistrée en tant qu’image (JPG, TIFF, PNG, BMP...) et
imprimée.
Principales fonctions :
libre choix d’un polygone ou d’un rectangle
mesure de la surface réelle et de la surface projetée
extraction de paramètres tels que l’ondulation et la rugosité
fonction d’exportation de toutes les données de mesure en tant qu’image ou tableau
détermination et modification du plan de référence
représentation de l’image à mesurer également en tant que hauteurs ou anaglyphe
affichage des courbes de niveau
Référence
33 007 036
Les illustrations, descriptions et données techniques sont sans engagement de notre part et peuvent être modifiées sans préavis.
Imprimé sur du papier sans chlore à forte teneur en fibres recyclées.
M1-525-2fr • © Leica Microsystems (Suisse) SA • CH-9435 Heerbrugg, 2004 • Imprimé en Suisse – IV.2005 – RDV
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Module Surfaces de Leica Stereo Explorer
Leica Microsystems (Suisse) SA
Stereo & Macroscope Systems
CH-9435 Heerbrugg
Téléphone +41 71 726 33 33
Fax +41 71 726 33 99
www.leica-microsystems.com
www.stereomicroscopy.com

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